QRZ.RU > Схемы и документация > Измерительная техника > Схемы и документация измерительной техники > Характериограф для тестирования компонентов схем
Характериограф для тестирования компонентов схем
Описание: Применяя представленную схему характериографа, нет необходимости вынимать компоненты из схемы, один за другим, с целью их тестирования. Напряжения и токи, которые используются при тестировании, достаточно малы почти для всех собранных на полупроводниках схем. Компоненты могут испытываться на короткие замыкания и обрывы. Устройство с помощью подключаемого осциллографа позволяет наглядно тестировать переходы транзисторов и диодов в прямом и обратном направлении. Фигуры Лиссажу и другие комбинируе ...
Категории:
Информация о файле
Технический форум EHAM.RU - обсуди эту схему!  Отредактировать эту запись?Все схемы Просмотров всего 2,511, сегодня 1 |
Рейтинг читателей этой схемы |
Похожие схемы
| Название | Категории | Обновлено |
|---|---|---|
| Выбор бустрепных компонентов для управляющих ИС | Свет/Лазер |
22.03.2003 09:31 |
| Современные методы монтажа и замены электронных компонентов | Другие схемы |
27.02.2004 08:43 |
| Характериограф для полевого транзистора | Измерительная техника >> Схемы и документация измерительной техники |
16.11.2016 22:55 |
| Характериограф для транзисторов и диодов | Измерительная техника >> Схемы и документация измерительной техники |
16.11.2016 22:54 |
| Характериограф для полупроводников | Измерительная техника >> Схемы и документация измерительной техники |
16.11.2016 22:54 |